鐵電性能綜合測試儀內(nèi)置完整的專用工控計算機主機、測試版路、運算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計算機主板、CPU(i5 或較高)、RAM(8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。

鐵電性能綜合測試儀

鐵電性能綜合測試儀產(chǎn)品介紹：

     華測儀器 鐵電材料測試系統(tǒng)有著寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測試頻率可高達500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測試軟件。此外還可外部擴展電壓到4kV、10kV、20kV， Huace FE主機在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、 脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。內(nèi)置完整的專用工控計算機主機、測試版路、運算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計算機主板、CPU(i5 或較高)、RAM (8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD  光驅(qū)、 VGA 接口、預裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。

可擴展部件：

  可與高低溫冷熱臺、高溫測試裝置、探針臺、高壓放大器、高阻計、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴展。

  塊體測試夾具： 用于厚膜、塊體鐵電、 擊穿測試可擴展變溫功能。

  薄膜四探針探針臺：室溫到 250℃ 可用于厚膜鐵電、壓電 （e31）、熱釋電測試。

  薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺： -196℃到+600℃ 可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測試。

  薄膜探針臺（國產(chǎn)）： 室溫鐵電測試 可用于薄膜和厚膜室 溫鐵電性能測試