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簡介：電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）特點與優(yōu)勢：數(shù)據(jù)采集率高達(dá)每秒1400個標(biāo)定點。可在數(shù)分鐘內(nèi)完成分布圖采集，利于高效使用SEM。在整個SEM運行條件范圍內(nèi)均有優(yōu)質(zhì)性能。

簡介：電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）提供具有高標(biāo)定性能的材料高速采集面分布圖。通過采用CMOS傳感器，VelocityTM將高靈敏性、低嗓聲性能以及快速采集結(jié)合為一體，實現(xiàn)了采集速度與數(shù)據(jù)質(zhì)量的優(yōu)化。

簡介：EBSD（電子背散射衍射）技術(shù)主要用于快速獲取晶體材料的晶體學(xué)信息，可對材料進(jìn)行織構(gòu)和晶粒間取向差分析，晶粒尺寸及形狀分布分析，晶界、亞晶及孿晶分析，應(yīng)變和再結(jié)晶的分析，以及相鑒定和相含量計算等，...

簡介：QUANTAXEBSD分析系統(tǒng)面向不通水平的用戶，具有簡潔易用和多功能的特點。無論是單機分析還是與EDS一體化集成，CrystAlign均能為各種不同晶體材料的研究提供更大的通用性和靈活性。其中，...