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簡介：植物冠層分析儀，植物葉面積指數是反映植物群體(冠層)生長狀況的一個重要指標，其大小直接與最終產量高低密切相關。主要測量或計算得出光合有效輻射、葉面積指數LAI、叢生指數、間隙率、光合有效輻射分量等...

簡介：HemiView數字植物冠層分析系統通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。

簡介：DJ-LAISmart全自動植被冠層成像分析儀由硬件部分和軟件部分組成，其中硬件部分包括信息采集智能終端（圖像端）、用戶操作控制臺（控制端）與儀器支架。軟件包括信息采集軟件模塊、無線傳輸控制模塊以...

簡介：DJ-VINet植被指數儀由雙面6通道冠層節點、匯聚節點組成，以具有無線數據收發功能的光量子傳感器為基礎，可實現自動觀測NDVI（歸一化植被指數）、EVI（增強型植被指數）、植被大氣阻抗指數、GV...

簡介：AccuPARLP-80植物冠層分析儀可以測量評估植物健康狀況和冠層結構的兩個重要指標:光合有效輻射（PAR）和葉面積指數（LAI）,其中PAR表示有多少光能可以被植物光合作用利用，LAI可以用來...

簡介：無損傷地測量葉面積指數。利用植被樹冠的輻射轉移模型計算葉面積指數、空隙比等樹冠結構參數。利用隨機FV-2200軟件，可對數據進行深入處理分析。

簡介：金屬材質分析產品描述品牌一六儀器型號XAU類別下照式儀器尺寸440mm*560mm*480mm儀器重量45KGXY軸工作臺移動范圍50mm*50mmXY軸工作臺承重5KG測量元素范圍AI（13）-...

簡介：植物冠層圖像分析儀型號：YGL-S01A簡介植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關指標和參數

簡介：產品簡介Ux-720精密鍍層分析儀專用X射線熒光光譜儀，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統

簡介：HR-T1000型顆粒圖像分析系統是一種圖像法顆粒粒度分析和形貌分析等多功能顆粒分析系統