HOOLL9600A 平面平晶檢測干涉儀
參考價 | ¥ 1 |
訂貨量 | ≥1 臺 |
- 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
- 品牌
- 型號 HOOLL9600A
- 所在地 上海
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2023/1/8 15:47:20
- 訪問次數 735
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平面平晶檢測干涉儀 突破了一等平面平晶限制,且其采樣點可達上百萬像素,能客觀反映被測平面全貌。 不僅測量精度高,而且具有*的測量效率。此款干涉儀可廣泛應用高精度光學元件制造、計量檢測、生物醫學、航空航天、國防、微電子、能源等眾多領域 具有廣闊的市場前景。
平面平晶檢測干涉儀?
(1)應用領域
●計量領域(平面平晶檢測)
●半導體工業(晶片檢測)
●大平板顯示(平面檢測)
●手機工業(背板檢測)
●光學加工(窗口玻璃檢測)
●高精度精密機械(平面元件檢測)
●LED工業(藍寶石襯底檢測)
●數據存儲和科研院校教學儀器等多種領域。
●平面平晶、窗口玻璃、光學平面、金屬平面、陶瓷平面等
●光滑表面面形的高精度快速測量,90°直角棱鏡和角錐測量。
(2)產品綜述
無應力平面檢測干涉儀是高性能模塊化組合檢測干涉儀中的一種,它采用組合式激光干涉儀作為核心部件,主要用于高效檢測高精度平面。
該產品包括光源、主機、成像以及鏡頭和相移等四大模塊,主要技術指標已達到國際水平, 采用更加簡便操作的俯式測量,擁有*的測量精度和測量重復性,突破了一等平面平晶限制,且其采樣點可達上百萬像素,能客觀反映被測平面全貌。不僅測量精度高,而且具有*的測量效率。
此款干涉儀可廣泛應用高精度光學元件制造、計量檢測、生物醫學、航空航天、國防、微電子、能源等眾多領域,具有廣闊的市場前景。
(3)平面平晶檢測干涉儀參數性能
測量原理: | 斐索干涉原理 |
光源波長: | 632.8nm |
樣品準直: | 使用兩個光點 |
電源: | 220V 50HZ /11 0V 60HZ |
操作系統: | Windows7/10, 32/64bit |
CCD分辨率: | 1280*960像素 |
軟件: | H&L-p數字化相移分析軟件 |
精密度: | 入/600 PV |
重復性: | 入/500 PV |
重復性: | 入/1000 RMS |
透射平面鏡精度: | A/20 PV |
◆材質均勻性
◆超精密平面/球面面形測量
◆光學系統裝調和校準
◆光學組件透射波前測量
◆光學均勻性測量
◆平行度測量
◆角錐角度測量
◎◎我們會傾聽您的需求,支持特殊需求定制
部分客戶群體:蘇州計量院,上海計量院,福建計量院,上海光機所,石家莊13所,上?,F代先進超精密制造中心有限公司UPEC,長春理工,上海理工等。
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