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HOOLL9600A 平面平晶檢測干涉儀

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平面平晶檢測干涉儀 突破了一等平面平晶限制,且其采樣點可達上百萬像素,能客觀反映被測平面全貌。 不僅測量精度高,而且具有*的測量效率。此款干涉儀可廣泛應用高精度光學元件制造、計量檢測、生物醫學、航空航天、國防、微電子、能源等眾多領域 具有廣闊的市場前景。

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平面平晶檢測干涉儀?



                    (1)應用領域

●計量領域(平面平晶檢測)

●半導體工業(晶片檢測)

●大平板顯示(平面檢測)

●手機工業(背板檢測)

●光學加工(窗口玻璃檢測)

●高精度精密機械(平面元件檢測)

●LED工業(藍寶石襯底檢測)

●數據存儲和科研院校教學儀器等多種領域。

●平面平晶、窗口玻璃、光學平面、金屬平面、陶瓷平面等

●光滑表面面形的高精度快速測量,90°直角棱鏡和角錐測量。


                    (2)產品綜述


  無應力平面檢測干涉儀是高性能模塊化組合檢測干涉儀中的一種,它采用組合式激光干涉儀作為核心部件,主要用于高效檢測高精度平面。

  該產品包括光源、主機、成像以及鏡頭和相移等四大模塊,主要技術指標已達到國際水平, 采用更加簡便操作的俯式測量,擁有*的測量精度和測量重復性,突破了一等平面平晶限制,且其采樣點可達上百萬像素,能客觀反映被測平面全貌。不僅測量精度高,而且具有*的測量效率。

  此款干涉儀可廣泛應用高精度光學元件制造、計量檢測、生物醫學、航空航天、國防、微電子、能源等眾多領域,具有廣闊的市場前景。


                   (3)平面平晶檢測干涉儀參數性能

測量原理:

斐索干涉原理

光源波長:

632.8nm

樣品準直:

使用兩個光點

電源:

220V 50HZ /11 0V 60HZ

操作系統:

Windows7/10, 32/64bit

CCD分辨率:

1280*960像素

軟件:

H&L-p數字化相移分析軟件

精密度:

/600 PV

重復性:

/500 PV

重復性:

/1000 RMS

透射平面鏡精度:

A/20 PV


◆材質均勻性

◆超精密平面/球面面形測量

◆光學系統裝調和校準

◆光學組件透射波前測量

◆光學均勻性測量

◆平行度測量

◆角錐角度測量

◎◎我們會傾聽您的需求,支持特殊需求定制



  部分客戶群體:蘇州計量院,上海計量院,福建計量院,上海光機所,石家莊13所,上?,F代先進超精密制造中心有限公司UPEC,長春理工,上海理工等。


冠乾科技(上海)有限公司

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