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FI-RXF200 研究型傅里葉變換紅外光譜儀

參考價 0.01
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 北京卓立漢光儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號 FI-RXF200
  • 所在地 北京市
  • 廠商性質 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2024/5/10 11:05:14
  • 訪問次數(shù) 296

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FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里葉變換紅外光譜儀,能更好地滿足科研用戶不同的需求。FI-RXF200 擁有優(yōu)于 0.25cm-1 光譜分辨率、光譜范圍可擴展到 12800-350cm-1,可選擇光源和檢測器的自動切換,同時兼容各種內(nèi)置、外置型附件,F(xiàn)I-RXF200 推動國產(chǎn)紅外光譜儀向科研級邁上了一個新的臺階。

詳細信息 在線詢價

FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里葉變換紅外光譜儀,能更好地滿足科研用戶不同的需求。FI-RXF200 擁有優(yōu)于 0.25cm-1 光譜分辨率、光譜范圍可擴展到 12800-350cm-1,可選擇光源和檢測器的自動切換,同時兼容各種內(nèi)置、外置型附件,F(xiàn)I-RXF200 推動國產(chǎn)紅外光譜儀向科研級邁上了一個新的臺階。

研究型傅里葉變換紅外光譜儀

 產(chǎn)品特點

優(yōu)異的光譜分辨率

FI-RXF200 全光譜分辨率優(yōu)于 0.25cm-1,擁有高的信噪比,并可以升級到更高的光譜分辨率,可以適用于絕大部分科研需求。

寬光譜擴展功能

FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀可以通過光學組件的自動切換,將標準的中紅外譜區(qū)(8000-350cm-1)擴展到近紅外譜區(qū)(12800-4000cm-1),可以實現(xiàn)在同一臺主機上進行中、近紅外譜區(qū)的分析研究,拓展了研究范圍。傅立葉變換近紅外光譜儀具有優(yōu)勢:通常情況下,樣品無需稀釋即可進行測量,由于玻璃在近紅外波段是透明的,樣品可以直接放置在玻璃瓶中進行分析。

高性能設計

FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀專為科研實驗室需求而設計,它集操作簡單、高性能設計和高性價比等優(yōu)點于

一身。標準配置室溫型DLaTGS 檢測器,也可以選配液氮冷卻 MCT 檢測器、半導體制冷 MCT 檢測器、液氮制冷銻化銦檢測器、半導體制冷銦鎵砷檢測器等各種高靈敏度探測器,有效應對科研用戶各種需求的高靈敏度和高光通量。FI-RXF200 所有檢測器,均基于最新的雙通道模數(shù)轉換器及 32 位動態(tài)范圍,使儀器的電子噪聲值達到更低。

簡單靈活的軟件功能

FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀采用全中文內(nèi)核和界面,所有的操作和分析評價功能均可用于處理批量文件。并集成了全自動采集功能、在線實時反應監(jiān)測軟件,適用于化工制藥的合成反應、催化反應、電化學反應等中間反應過程的動態(tài)機理研究。

 主要技術參數(shù)

項目

標準配置

可選配置

光譜分辨率

≤0.25cm-1


光譜范圍

8000-350cm-1

12800-4000cm-1

光源

陶瓷光源

鎢絲燈

分束器

鍍鍺KBr

石英分束器、CaF2 分束器、硒化鋅分器等

 

檢測器

 

標配:室溫 DLaTGS

選配:液氮制冷型MCT;

半導體制冷 MCT 檢測器、液氮制冷銻化銦檢測器、液氮制冷鍺檢測器、半導體制冷銦鎵砷

檢測器等

樣品腔

透射樣品腔

選配:發(fā)射紅外口、外置樣品腔,UHV 的真空

密封外接腔等

波數(shù)精度

≤0.01 cm-1

信噪比

≥45,000:1

透過率精度

≤0.1%T

干涉儀

立體角鏡干涉儀

 

 外接附件和樣品倉可選附件

● 熱分析紅外聯(lián)用模塊
● 氣相紅外聯(lián)用附件
● 外接樣品倉,可以抽真空或氮氣吹掃
● 聯(lián)接UHV 的真空密封外接腔
● 2 厘米-20 米各種規(guī)格氣體池
● 積分球附件
● 原位透射附件
● 原位漫反射附件
● 顯微紅外附件
● ATR 附件和鏡反射附件

 

FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀應用方向

優(yōu)異制藥及生命科學

蛋白質構象及濃度定量

對水溶液中藥物成分和賦形劑的高靈敏度的定量分析

微生物鑒定

與熱分析聯(lián)用對醫(yī)藥產(chǎn)品的揮發(fā)性、穩(wěn)定性進行表征

聚合物和化學制品

與熱分析聯(lián)用對揮發(fā)過程和分解過程進行檢測和表征

實驗室條件下的反應過程的監(jiān)控(配套中紅外 ATR 光纖探頭)

表面分析

超薄膜和單分子層薄膜的檢測和表征腐蝕過程的表征

材料科學

建筑材料發(fā)射率的檢測

紅外窗片、鏡面等光學材料的特性評價采用光聲光譜對黑色材料進行研究

半導體硅業(yè)

各種非金屬膜厚的測量

質量控制中碳/氧雜質的測定

土壤分析

土壤中養(yǎng)分和有機質的評估土壤特性研究


北京卓立漢光儀器有限公司

|

手機:13810146393

聯(lián)系人:賀

電話:86-010-56370168-696

傳真:010-56370118

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