FI-RXF200 研究型傅里葉變換紅外光譜儀
參考價 | ¥ 0.01 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 北京卓立漢光儀器有限公司
- 品牌
- 型號 FI-RXF200
- 所在地 北京市
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/5/10 11:05:14
- 訪問次數(shù) 296
聯(lián)系方式:賀 13810146393 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
參考價 | ¥ 0.01 |
訂貨量 | ≥1件 |
聯(lián)系方式:賀 13810146393 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里葉變換紅外光譜儀,能更好地滿足科研用戶不同的需求。FI-RXF200 擁有優(yōu)于 0.25cm-1 光譜分辨率、光譜范圍可擴展到 12800-350cm-1,可選擇光源和檢測器的自動切換,同時兼容各種內(nèi)置、外置型附件,F(xiàn)I-RXF200 推動國產(chǎn)紅外光譜儀向科研級邁上了一個新的臺階。
FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里葉變換紅外光譜儀,能更好地滿足科研用戶不同的需求。FI-RXF200 擁有優(yōu)于 0.25cm-1 光譜分辨率、光譜范圍可擴展到 12800-350cm-1,可選擇光源和檢測器的自動切換,同時兼容各種內(nèi)置、外置型附件,F(xiàn)I-RXF200 推動國產(chǎn)紅外光譜儀向科研級邁上了一個新的臺階。
產(chǎn)品特點
優(yōu)異的光譜分辨率
FI-RXF200 全光譜分辨率優(yōu)于 0.25cm-1,擁有高的信噪比,并可以升級到更高的光譜分辨率,可以適用于絕大部分科研需求。
寬光譜擴展功能
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀可以通過光學組件的自動切換,將標準的中紅外譜區(qū)(8000-350cm-1)擴展到近紅外譜區(qū)(12800-4000cm-1),可以實現(xiàn)在同一臺主機上進行中、近紅外譜區(qū)的分析研究,拓展了研究范圍。傅立葉變換近紅外光譜儀具有優(yōu)勢:通常情況下,樣品無需稀釋即可進行測量,由于玻璃在近紅外波段是透明的,樣品可以直接放置在玻璃瓶中進行分析。
高性能設計
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀專為科研實驗室需求而設計,它集操作簡單、高性能設計和高性價比等優(yōu)點于
一身。標準配置室溫型DLaTGS 檢測器,也可以選配液氮冷卻 MCT 檢測器、半導體制冷 MCT 檢測器、液氮制冷銻化銦檢測器、半導體制冷銦鎵砷檢測器等各種高靈敏度探測器,有效應對科研用戶各種需求的高靈敏度和高光通量。FI-RXF200 所有檢測器,均基于最新的雙通道模數(shù)轉換器及 32 位動態(tài)范圍,使儀器的電子噪聲值達到更低。
簡單靈活的軟件功能
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀采用全中文內(nèi)核和界面,所有的操作和分析評價功能均可用于處理批量文件。并集成了全自動采集功能、在線實時反應監(jiān)測軟件,適用于化工制藥的合成反應、催化反應、電化學反應等中間反應過程的動態(tài)機理研究。
主要技術參數(shù)
項目 | 標準配置 | 可選配置 |
光譜分辨率 | ≤0.25cm-1 | |
光譜范圍 | 8000-350cm-1 | 12800-4000cm-1 |
光源 | 陶瓷光源 | 鎢絲燈 |
分束器 | 鍍鍺KBr | 石英分束器、CaF2 分束器、硒化鋅分器等 |
檢測器 |
標配:室溫 DLaTGS | 選配:液氮制冷型MCT; 半導體制冷 MCT 檢測器、液氮制冷銻化銦檢測器、液氮制冷鍺檢測器、半導體制冷銦鎵砷 檢測器等 |
樣品腔 | 透射樣品腔 | 選配:發(fā)射紅外口、外置樣品腔,UHV 的真空 密封外接腔等 |
波數(shù)精度 | ≤0.01 cm-1 | |
信噪比 | ≥45,000:1 | |
透過率精度 | ≤0.1%T | |
干涉儀 | 立體角鏡干涉儀 |
外接附件和樣品倉可選附件
FI-RXF200 傅里葉變換紅外光譜儀應用方向
優(yōu)異制藥及生命科學
蛋白質構象及濃度定量
對水溶液中藥物成分和賦形劑的高靈敏度的定量分析
微生物鑒定
與熱分析聯(lián)用對醫(yī)藥產(chǎn)品的揮發(fā)性、穩(wěn)定性進行表征
聚合物和化學制品
與熱分析聯(lián)用對揮發(fā)過程和分解過程進行檢測和表征
實驗室條件下的反應過程的監(jiān)控(配套中紅外 ATR 光纖探頭)
表面分析
超薄膜和單分子層薄膜的檢測和表征腐蝕過程的表征
建筑材料發(fā)射率的檢測
紅外窗片、鏡面等光學材料的特性評價采用光聲光譜對黑色材料進行研究
半導體硅業(yè)
各種非金屬膜厚的測量
質量控制中碳/氧雜質的測定
土壤分析
土壤中養(yǎng)分和有機質的評估土壤特性研究
手機:13810146393
聯(lián)系人:賀
電話:86-010-56370168-696
傳真:010-56370118
(聯(lián)系我時,請說明是在儀器網(wǎng)上看到的,謝謝!)*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: