AnalyticalProbingStationPW-600基本特點：在顯微鏡底下，利用探針搭接于IC內部線路，使其可以外接各類設備，以便量測或輸入訊號：探針分為硬針和軟針
Analytical Probing Station PW-600基本特點：
在顯微鏡底下，利用探針搭接于IC內部線路，使其可以外接各類設備，以便量測或輸入訊號：
探針分為硬針和軟針。硬針以針尖1um及5um粗細為主要應用規格：軟針針尖<1um，主要應用在高頻電路及FIB probing PAD；當EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等在無適當治具或socket可用時，可由點針方式提供訊號輸入輸出；Wafer可搭配Probe card做各項測試；
|
|
|
|
|
|
|
|
|
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
