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X射線鍍層測厚儀(iEDX-150WT)

參考價面議
具體成交價以合同協議為準

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儀器用途 該儀器適用于各金屬元素鍍層厚度的測量,如PCB中的金、鎳、銀、錫等,為及成本控制提供有利的管控。 儀器特點 多鍍層檢測 ,檢測層數范圍1-5層 可同時選配RoHS檢

詳細信息 在線詢價

儀器用途
 
該儀器適用于各金屬元素鍍層厚度的測量,如PCB中的金、鎳、銀、錫等,為及成本控制提供有利的管控。
 
 
儀器特點

多鍍層檢測 ,檢測層數范圍1-5層

可同時選配RoHS檢測功能 ,精確的測試RoHS指令中的鉛、柔、鋪、錯、頓、錦、砸、肺等重金屬 ,測試無鹵素指令中 的滇、氯等有害元素
可同時選配鍍液藥水分析功能 ,一分鐘即可分析出藥水內金 ,鎮,銅等藥水含量,分析精度為0.01ppm.開槽式超大全自動平臺(610 ×525 mm ( 長×寬 ),樣品移動距離可達110×110×5mm ((長×寬×高 ), 專為線路板行業研制 
激光定位 ,可以連續自動多點程控測量
可以選配多準直器系統 ,最多可配/7個準直器
標配德國Amptek  Si-Pin 探測器 ,選配高精度SDD探測器 ,可實現更高的測試精度.
相對于傳統鍍層測厚儀 ,開機不需要預熱,提升效率

基本參數:

項目

標配

選配

檢測元素范圍

Al(13)-U(92)

/

平臺

固定

自動(平臺尺寸::610X 525mm,樣品移動距離:110X110X5mm)

準直器

單準直器系統0.2/0.3mm

0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4mm共7種規格可選,也可定制特殊型號

X光管

50KV 1mA,MO靶,光斑尺寸75um,使用壽命>15,000小時

50KV 1mA,MO靶,光斑尺寸50um,使用壽命>15,000小時

探測器

半導體Si-Pin探測器,分辨率159eV

超高分辨率(159eV)SDD探測器

視頻系統

高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統,

觀察范圍 :3 ×3mm.放大倍數 :40X

/

樣品定位

顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

/

軟件

標配Multi-Ray鍍層分析軟件

1、選配ROHS分析軟件;2、選配合金分析軟件;3、選配藥水分析軟件

分析樣品類型

液體/固體/粉末

/

附件

含電腦、顯示器、打印機

 




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