儀器用途 該儀器適用于各金屬元素鍍層厚度的測量,如PCB中的金、鎳、銀、錫等,為及成本控制提供有利的管控。 儀器特點 多鍍層檢測 ,檢測層數范圍1-5層 可同時選配RoHS檢
多鍍層檢測 ,檢測層數范圍1-5層
項目 | 標配 | 選配 |
檢測元素范圍 | Al(13)-U(92) | / |
平臺 | 固定 | 自動(平臺尺寸::610X 525mm,樣品移動距離:110X110X5mm) |
準直器 | 單準直器系統0.2/0.3mm | 0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4mm共7種規格可選,也可定制特殊型號 |
X光管 | 50KV 1mA,MO靶,光斑尺寸75um,使用壽命>15,000小時 | 50KV 1mA,MO靶,光斑尺寸50um,使用壽命>15,000小時 |
探測器 | 半導體Si-Pin探測器,分辨率159eV | 超高分辨率(159eV)SDD探測器 |
視頻系統 | 高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統, 觀察范圍 :3 ×3mm.放大倍數 :40X | / |
樣品定位 | 顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能 | / |
軟件 | 標配Multi-Ray鍍層分析軟件 | 1、選配ROHS分析軟件;2、選配合金分析軟件;3、選配藥水分析軟件 |
分析樣品類型 | 液體/固體/粉末 | / |
附件 | 含電腦、顯示器、打印機 |
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