華衡科器C-SWIFT電子背散射衍射測試模塊C-Swift能夠以每秒超過2000個標定花樣的速度，進行高質(zhì)量的EBSD分析，同時受益于光纖提供的高靈敏度，是任何常規(guī)材料表征任務的理想探測器

華衡科器  C-SWIFT 電子背散射衍射測試模塊

• 622 x 512 分辨率 EBSD 花樣，同時速度> 250 pps， 束流低至 300 pA⸺非常適合表征更具挑戰(zhàn)性的材料；
• 保證分析速度超過 2000 pps，僅使用 8 nA 束流 （在鋼、Ni上）；
• 156 x 128 像素 EBSD 花樣分辨率，速度下提供高 質(zhì)量花樣細節(jié)，實現(xiàn)可靠的相分離和出色的取向精度。