X射線能譜EDS
新一代的QUANTAX能譜儀采用*的 slim-line 技術，并可搭載不同有效面積的XFlash® 6探頭。而且，依托于改進的超級數模雙通道脈沖處理器，布魯克又一次為能譜儀的操作性和功能性建立了新的標準。
利用以上科技，布魯克第六代電致冷能譜儀為微米尺度甚至納米尺度的微區分析提供了迄今為止zui為快速和可靠的分析工具。

X射線能譜EDS

新一代的QUANTAX能譜儀采用*的 slim-line 技術，并可搭載不同有效面積的XFlash® 6探頭。而且，依托于改進的超級數模雙通道脈沖處理器，布魯克又一次為能譜儀的操作性和功能性建立了新的標準。

利用以上科技，布魯克第六代電致冷能譜儀為微米尺度甚至納米尺度的微區分析提供了迄今為止zui為快速和可靠的分析工具。

布魯克第六代XFlash® 探測器

種探頭面積可選

10, 30, 60 及 100 mm² 的探頭面積可選，提供微量分析及納米分析的理想解決方案

超高脈沖數據處理能力，保證zui快的測量速度

輸入計數率超過

輸出計數率超過

的能量分辨率，保證*的輕元素和低能端分析

121eV limited edition

123eV ultimate

126eV premium

129eV standard

所有能量分辨率指標均優于 的要求

Slim-line 技術：更高的計數率，更低束流下的分析

簡潔的設計，探頭小巧輕便

探測器重量不超過

® 6 for SEM

® 6 | 10 及 6 | 30涵蓋絕大部分應用領域， 包括高束流分析、低電壓（納米）分析和低真空分析。而XFlash® 6 | 60 和 6 | 100 則適用于一些不常見應用領域，包括低束流分析和對束流極其敏感的樣品。

XFlash® 6 | 10 – *能量分辨率SDD

10 mm² 探測器具有分辨率 Mn Ka 121 eV – 業內的能量分辨率；

XFlash® 6 | 30 – 效率超高的全面分析能手

XFlash® 6 | 60 – 大面積SDD，納米分析專家

60 mm² SDD 適用于低束流分析；

XFlash® 6 | 100 – zui大的探測面積，為低束流應用而生

100 mm² 有效面積，解決一些特殊測試需要；

® 6T for TEM

Bruker XFlash® 6T – 實現在 TEM 和 S/TEM 中zui大的固體角，zui大程度的減少了對電鏡在機械和電磁方面的干擾。提供*的檢出角，避免不必要的樣品傾斜。

XFlash® 6T | 30 – *適用于像差校正透射電子顯微鏡的SDD

XFlash® 6T | 60 – 固體角zui大的SDD，為埃米級別透射電子顯微鏡分析而生

60 mm²有效面積，專門適合分析中只有極低X射線產額的情況