測試速度超快的微納米力學測試平臺NanoIndenter®G200系統專為各種材料的表征和開發過程中進行納米級測量而設計

測試速度超快的微納米力學測試平臺

Nano Indenter^® G200系統專為各種材料的表征和開發過程中進行納米級測量而設計。該系統是一個可升級，可擴展且經過生產驗證的平臺，全自動硬度測量可應用于質量控制和實驗室環境。

產品描述 

Nano Indenter^® G200系統是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。G200測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。該系統還可以測量聚合物，凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應（應變率靈敏度）。模塊化選項可適用于各種應用：頻率特定測試，定量刮擦和磨損測試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測試，擴展負載容量高達10N和自定義測試。

主要功能

• 電磁驅動可實現高動態范圍下力和位移測量

• 用于成像劃痕，高溫納米壓痕測量和動態測試的模塊化選項

• 直觀的界面，用于快速測試設置；只需幾個鼠標點擊即可更改測試參數

• 實時實驗控制，簡便的測試協議開發和精確的熱漂移補償

• 屢獲殊榮的高速“快速測試”選項，用于測量硬度和模量

• 多功能成像功能，測量掃描和流程化測試方法，幫助快速得到結果

• 簡單快捷地確定壓頭面積函數和載荷框架剛度

主要應用

• 高速硬度和模量測量

• 界面附著力測量

• 斷裂韌性測量

• 粘彈性測量

• 掃描探針顯微鏡（3D成像）

• 耐磨損和耐刮擦

• 高溫納米壓痕

工業應用

• 大學，研究實驗室和研究所

• 半導體和電子工業制造業

• 輪胎行業

• 涂層和涂料工業

• 生物醫藥行業

• 醫療儀器

• 更多應用：請根據您的要求與我們聯系

主要性能

增強的載荷加載系統

增強的納米劃痕測試

更強化的微摩擦磨損測試功能

粘彈性材料性能測量功能－DMA 功能

增強的恒應變速率測試功能

的連續剛度測量功能

增強的原位納米力學測試功能

Survey Scanning圖像功能

超高精度成像定位功能

的接觸剛度成像功能

的革命性的超快壓痕技術

從MTS公司到安捷倫公司再到KLA公司

– KLA是較大的半導體在線測量領域的公司。

– 在 1983 年發明了一臺的納米壓痕儀。

– 我們擁有世界上及國內相當大的納米壓痕儀客戶群。

– 是符合 ISO-14577、ASTM-E2546-07、GB/T22458-2008、GB/25898-2010 等國家標準的納米壓痕儀供貨商。

– 大且靈活的加載范圍——適用于各種材料和硬質薄膜及涂層檢測。

– 大的壓頭移動范圍——適用于各種較厚薄膜和涂層、粗糙度較大的樣品。

– 的位移探測精度。

– 的技術——連續剛度測量模塊。

– 的恒應變加載模式。

– 的金剛石壓頭制造工藝。

– 整個測量過程中熱飄移效應實時扣除——KLA的技術。

– 功能強大的 NanoSuite 6 控制軟件——行業中的較為強大的控制軟件。

– 真正的原位成像和原位納米力學測試功能。

– 性能的防震抗噪系統。

– 全自動控制的光學顯微鏡系統。

– KLA在中國設置了當地的維修和培訓中心。

– 強大的技術團隊。

– 擁有國內領域較大的客戶群。