G200X納米壓痕儀NanoIndenterG200X系統，是G200納米壓痕儀的升級版本

G200X納米壓痕儀

Nano Indenter G200X系統，是G200納米壓痕儀的升級版本。這款納米級機械測試儀器兼具精準、靈活、易于使用等優點。G200X加入了高速控制電子元件，并且支持的InView軟件的升級界面，從而增強了KLA Nano Indenter G200系統的測量能力。G200X可測量楊氏模量和硬度，以及金屬薄膜的蠕變響應（應變率敏感性）。模塊化系統選件可適應于多種應用：特定頻率的測試，劃痕和磨損的定量測試，集成探頭成像，高溫測試和定制測試方案。更多優點，歡迎咨詢客服。